发明名称 |
一种正电子平均寿命分解方法 |
摘要 |
本发明涉及一个正电子平均寿命分解方法,包括以下步骤:先设定所研究材料体中的缺陷类型以及个数,根据待处理的正电子平均寿命值的大小以及对应的测量温度绘图,然后采用理论上计算所得到的正电子平均寿命的温度关系,构建简化的正电子平均寿命模型函数,再设定约束条件、通过最小二乘法原理,对实验测量的正电子平均寿命进行拟合,并输出结果。本发明不仅可以分解多个相关联缺陷的寿命谱,而且还可以得到缺陷的正电子捕获率、浓度等等物理量,对复杂缺陷体系的研究具有重要实用价值,同时本发明所提供的技术方案还具有良好的扩展性。 |
申请公布号 |
CN102680500A |
申请公布日期 |
2012.09.19 |
申请号 |
CN201210174938.6 |
申请日期 |
2012.05.30 |
申请人 |
武汉大学 |
发明人 |
庞锦标;王柱;田丰收;周凯;刘亮亮 |
分类号 |
G01N23/06(2006.01)I |
主分类号 |
G01N23/06(2006.01)I |
代理机构 |
武汉科皓知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 42222 |
代理人 |
薛玲 |
主权项 |
一种正电子平均寿命分解方法,其特征在于,包括以下的步骤:步骤1,根据用户所研究的材料样品的寿命的成分种数,确定缺陷体系,求解对应缺陷体系下理论上的正电子平均寿命温度关系,得到初始的拟合模型函数; 步骤2,优化及约束拟合模型函数,包括以下子步骤,步骤2.1,输入正电子平均寿命温度关系数据;步骤2.2,根据预设的寿命值参数,对步骤1所得理论上的正电子平均寿命温度关系进行简化,优化拟合模型函数;步骤2.3,输入预设的拟合条件,对步骤2.2中的拟合模型函数进行约束;步骤3,拟合并获取结果,包括以下子步骤,步骤3.1,根据步骤2优化及约束后的拟合模型函数,采用最小二乘法原理,对步骤2.1输入的正电子平均寿命温度关系数据进行拟合,根据拟合后所得的拟合模型函数生成最小二乘拟合曲线;步骤3.2,采用步骤3.1拟合后所得的拟合模型函数,提取拟合参数,根据预设的常温下缺陷捕获系数的大小,计算并输出最终结果。 |
地址 |
430072 湖北省武汉市武昌区珞珈山武汉大学 |