发明名称 |
用于检测残像的液晶模组检测装置、检测评定系统及方法 |
摘要 |
本发明公开了一种用于检测残像的液晶模组检测装置、检测评定系统及方法,涉及液晶模组检测技术领域。该装置包括:密封隔热透明容器,用于容纳待测液晶模组;温度控制模块,用于对所述容器内的温度进行调节;信号发生模块,用于为所述待测液晶模组提供驱动信号。本发明的装置、系统及方法通过对待测液晶模组定制密闭、绝热特性好的透明容器,使用模组自身背光和面板所发出的热量来形成测试所需的温度环境,减小了装置体积,降低了成本;将信号发生模块和温度控制模块集成在容器内,可进一步减小装置体积,使其方便携带,有利于液晶模组检测评定的实时监控。 |
申请公布号 |
CN102682683A |
申请公布日期 |
2012.09.19 |
申请号 |
CN201210168213.6 |
申请日期 |
2012.05.25 |
申请人 |
京东方科技集团股份有限公司 |
发明人 |
张培林;柳在健 |
分类号 |
G09G3/00(2006.01)I |
主分类号 |
G09G3/00(2006.01)I |
代理机构 |
北京路浩知识产权代理有限公司 11002 |
代理人 |
王莹 |
主权项 |
一种用于检测残像的液晶模组检测装置,其特征在于,该装置包括:密封隔热透明容器,用于容纳待测液晶模组;温度控制模块,用于对所述容器内的温度进行调节;信号发生模块,用于为所述待测液晶模组提供驱动信号。 |
地址 |
100015 北京市朝阳区酒仙桥路10号 |