发明名称 |
绝缘子RTV涂层老化的判断方法 |
摘要 |
本发明提供了一种绝缘子RTV涂层老化的判断方法。该判断方法包括:对绝缘子RTV涂层进行取样得到试片;对试片进行电声脉冲法PEA空间电荷测试,以得到试片的空间电荷密度分布曲线;根据试片的空间电荷密度分布曲线计算得出试片的空间电荷总量;根据试片的空间电荷总量判断RTV涂层的老化程度。采用本发明的技术方案,从微观电特性角度来进行绝缘子RTV涂层老化状态的评估,用空间电荷总量为特征量对老化程度进行量化,为电力系统绝缘子的抗污闪性能的评估提供了数据基础,为进一步制定绝缘子复涂RTV材料的时间和方案提供了依据,解决了现有技术中绝缘子RTV涂层老化的判断方法准确度不高的问题。 |
申请公布号 |
CN102680560A |
申请公布日期 |
2012.09.19 |
申请号 |
CN201210168176.9 |
申请日期 |
2012.05.25 |
申请人 |
华北电力大学 |
发明人 |
屠幼萍;王景春;丁立健;陈静静;张辉;陈聪慧;王璁 |
分类号 |
G01N27/60(2006.01)I |
主分类号 |
G01N27/60(2006.01)I |
代理机构 |
北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 |
代理人 |
吴贵明;余刚 |
主权项 |
一种绝缘子RTV涂层老化的判断方法,其特征在于,包括:对绝缘子RTV涂层进行取样得到试片;对所述试片进行电声脉冲法PEA空间电荷测试,以得到所述试片的空间电荷密度分布曲线;根据所述试片的空间电荷密度分布曲线计算得出所述试片的空间电荷总量;根据所述试片的空间电荷总量判断所述RTV涂层的老化程度。 |
地址 |
102206 北京市昌平区北农路2号华北电力大学电气与电子工程学院 |