发明名称 Layout-Verfahren für eine Maske
摘要 Layout-Verfahren für eine Maske, umfassend: Ausbilden einer Hauptstruktur auf einem Substrat; und Ausbilden einer Vielzahl von Füllstrukturen in derselben Größe in Gebieten, die sich vom dem Gebiet, in dem die Hauptstruktur ausgebildet ist, unterscheiden, wobei das Ausbilden der Vielzahl von Füllstrukturen umfasst: Ausbilden einer Vielzahl von Hauptfüllstrukturen, die voneinander auf dem Substrat beabstandet sind; Ausbilden einer Vielzahl von untergeordneten Füllstrukturen, indem die Vielzahl der Hauptfüllstrukturen in untergeordnete Füllstrukturen aufgeteilt werden, wobei eine erste Gruppe von Füllstrukturen einschließlich einer Vielzahl von ersten Füllstrukturen ausgebildet wird, die durch einen ersten Abstand voneinander getrennt sind, und eine zweite Gruppe von Füllstrukturen mit einer Vielzahl von zweiten Füllstrukturen ausgebildet wird, die durch den ersten Abstand voneinander getrennt sind, und Entfernen der untergeordneten Füllstrukturen, die mit der Hauptstruktur interagieren.
申请公布号 DE102007043097(B4) 申请公布日期 2012.09.13
申请号 DE20071043097 申请日期 2007.09.10
申请人 DONGBU HITEK CO., LTD. 发明人 LEE, SANG HEE;CHO, GAB HWAN
分类号 H01L21/027;G03F1/68;G03F1/70;H01L21/82 主分类号 H01L21/027
代理机构 代理人
主权项
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