发明名称 Halbleitervorrichtung und Verfahren zu ihrer Herstellung
摘要 Eine Halbleitervorrichtung enthält: eine N-Driftschicht (1); eine P-Anodenschicht (2) auf der N-Driftschicht (1); einen Graben (3), der die P-Anodenschicht (2) durchdringt; eine leitende Substanz (5), die über eine Isolierlage (4) in den Graben (3) eingebettet ist; und eine N-Pufferschicht (6) zwischen der N-Driftschicht (1) und der P-Anodenschicht (2), die eine höhere Störstellenkonzentration als die N-Driftschicht (1) aufweist.
申请公布号 DE102011089452(A1) 申请公布日期 2012.09.13
申请号 DE20111089452 申请日期 2011.12.21
申请人 MITSUBISHI ELECTRIC CORPORATION 发明人 NISHII, AKITO;NAKAMURA, KATSUMI
分类号 H01L29/861 主分类号 H01L29/861
代理机构 代理人
主权项
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