发明名称 |
Halbleitervorrichtung und Verfahren zu ihrer Herstellung |
摘要 |
Eine Halbleitervorrichtung enthält: eine N-Driftschicht (1); eine P-Anodenschicht (2) auf der N-Driftschicht (1); einen Graben (3), der die P-Anodenschicht (2) durchdringt; eine leitende Substanz (5), die über eine Isolierlage (4) in den Graben (3) eingebettet ist; und eine N-Pufferschicht (6) zwischen der N-Driftschicht (1) und der P-Anodenschicht (2), die eine höhere Störstellenkonzentration als die N-Driftschicht (1) aufweist.
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申请公布号 |
DE102011089452(A1) |
申请公布日期 |
2012.09.13 |
申请号 |
DE20111089452 |
申请日期 |
2011.12.21 |
申请人 |
MITSUBISHI ELECTRIC CORPORATION |
发明人 |
NISHII, AKITO;NAKAMURA, KATSUMI |
分类号 |
H01L29/861 |
主分类号 |
H01L29/861 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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