发明名称 光电子半导体芯片
摘要 在光电子半导体芯片(1)的至少一个实施形式中,所述光电子半导体芯片包括具有有源层(3)的层序列(2)。此外,半导体芯片(1)包括光耦合输出层(4),所述光耦合输出层至少间接地施加在半导体层序列(2)的辐射穿透面(20)上。光耦合输出层(4)的材料与半导体层序列(2)的材料不同,并且光耦合输出层(4)和半导体层序列(2)的材料的折射率彼此相差最高20%。通过在光耦合输出层(4)中的凹部(44)形成小平面(40),其中凹部(44)不完全穿透光耦合输出层(4)。此外,小平面(40)具有相当于辐射穿透面(20)的面积的至少25%的总面积。
申请公布号 CN102668139A 申请公布日期 2012.09.12
申请号 CN201080058884.6 申请日期 2010.12.15
申请人 欧司朗光电半导体有限公司 发明人 尼古劳斯·格迈因维泽;马蒂亚斯·扎巴蒂尔;安德烈亚斯·莱贝尔
分类号 H01L33/42(2006.01)I;H01L33/38(2006.01)I;H01L33/22(2006.01)I 主分类号 H01L33/42(2006.01)I
代理机构 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人 张春水;田军锋
主权项 光电子半导体芯片(1),具有‑半导体层序列(2),所述半导体层序列具有用于产生电磁辐射的至少一个有源层(3),和‑光耦合输出层(4),所述光耦合输出层至少间接地施加在所述半导体层序列(2)的辐射穿透面(20)上,其中‑所述光耦合输出层(4)的材料与所述半导体层序列(2)的材料不同,‑所述光耦合输出层(4)的材料和所述半导体层序列(2)的材料的折射率彼此相差最高20%,‑通过在所述光耦合输出层(4)中的凹部(44)形成具有小平面(40)的耦合输出结构,‑所述光耦合输出层(4)在所述辐射穿透面(20)上的区域中并未被所述凹部(44)完全穿透,和‑所述凹部(44)的所述小平面(40)具有的总面积为所述辐射穿透面(20)的面积的至少25%。
地址 德国雷根斯堡