发明名称 一种小电极结构阻变存储器及其制备方法
摘要 本发明公开了一种小电极结构阻变存储器及其制备方法,属于超大集成规模中半导体阻变存储器领域。本发明的阻变存储器包括Al电极层、SiO2层、Si层,阻变层和下电极层;其中,Al电极层与阻变层通过一个或多个导电通道电连接,所述导电通道为Al经SiO2层缺陷渗入到Si层而使Si溶解于Al形成的。本方法为:首先在沉底上依次制备一下电极层、一阻变层、一Si层、一SiO2层;然后在所述SiO2层上制备一Al电极层;最后对上述所得结构进行退火处理。本方法使用常规的技术工艺成本,就可以得到很小的实际电极,降低了成本,优化了器件,用较低的代价实现更小的实际电极面积。
申请公布号 CN102664235A 申请公布日期 2012.09.12
申请号 CN201210107418.3 申请日期 2012.04.12
申请人 北京大学 发明人 蔡一茂;毛俊;黄如;谭胜虎;黄英龙;潘越
分类号 H01L45/00(2006.01)I;G11C13/00(2006.01)I 主分类号 H01L45/00(2006.01)I
代理机构 北京君尚知识产权代理事务所(普通合伙) 11200 代理人 余长江
主权项 一种小电极结构阻变存储器,其特征在于依次包括Al电极层、SiO2层、Si层,阻变层和下电极层;其中,Al电极层与阻变层通过一个或多个导电通道电连接,所述导电通道为Al经SiO2层缺陷渗入到Si层而使Si溶解于Al形成的。
地址 100871 北京市海淀区颐和园路5号