发明名称 |
一种星上点目标检测方法 |
摘要 |
本发明公开了一种星上点目标检测方法,包括对图像数据进行辐射校正处理和几何校正处理的步骤;对图像数据背景抑制处理,获得目标图像数据的步骤;剔除目标图像数据中的粒子尖峰,获得目标过采样图像数据的步骤;利用目标过采样数据获得目标位置数据的步骤。采用本发明实现了在星上对图像数据的检测实现对目标获取。 |
申请公布号 |
CN102663385A |
申请公布日期 |
2012.09.12 |
申请号 |
CN201210058449.4 |
申请日期 |
2012.03.07 |
申请人 |
北京空间机电研究所 |
发明人 |
邢坤;周峰;吴立民;刘兆军;张涛;张寅生;胡斌;王斌 |
分类号 |
G06K9/32(2006.01)I |
主分类号 |
G06K9/32(2006.01)I |
代理机构 |
中国航天科技专利中心 11009 |
代理人 |
安丽 |
主权项 |
一种星上点目标检测方法,其特征在于包括以下步骤:步骤1:利用TDI CCD的非均匀校正系数对获得的图像数据进行辐射校正处理,对辐射校正后的图像数据进行几何校正处理;所述图像数据通过对TDI CCD获取的图像信号进行过采样获得;步骤2:对经过步骤1处理的图像数据进行背景抑制处理,去除图像数据中背景图像数据获得目标图像数据;步骤3:剔除经过步骤2获得的目标图像数据中的粒子尖峰,获得目标过采样图像数据;步骤4:利用步骤3获得的目标过采样图像数据确定目标位置数据并输出。 |
地址 |
100076 北京市9201信箱9分箱 |