发明名称 | 挠性的电容式传感器数组 | ||
摘要 | 一种用于检测施加至一电容式传感器数组的力并且补偿由于力所造成的坐标不正确的方法包含从所述电容式传感器数组接收多个电容测量,其中所述多个电容测量包含一第一电容测量以及一第二电容测量,以及根据一在所述第一电容测量以及所述第二电容测量之间的比较来检测在所述电容式传感器数组上的压力。 | ||
申请公布号 | CN102667398A | 申请公布日期 | 2012.09.12 |
申请号 | CN201180002806.9 | 申请日期 | 2011.10.12 |
申请人 | 赛普拉斯半导体公司 | 发明人 | 马绍·巴达耶;葛瑞格·兰德利 |
分类号 | G01B7/16(2006.01)I | 主分类号 | G01B7/16(2006.01)I |
代理机构 | 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 | 代理人 | 许静;赵爱军 |
主权项 | 一种方法,其包括:从一电容式传感器数组接收多个电容测量,其中所述多个电容测量包含至少一第一电容测量以及一第二电容测量;以及根据在所述第一电容测量以及所述第二电容测量之间的一比较来检测所述电容式传感器数组的变形。 | ||
地址 | 美国加利福尼亚州 |