| 发明名称 | 涂敷装置 | ||
| 摘要 | 在旋转滚筒(11)的内部设有测定部(13)，测定部(13)具备设置在另一端部(11b)的内壁的区域的透光构件(13a)和光学传感器(13b)。在粉粒体的涂敷处理时，通过NIR传感器(13b)经由透光构件(13a)对关于与透光构件(13a)的表面接触的粉粒体层(A)的粒子的物性(覆膜厚度、水分、涂敷性能、杂质等)的信息进行实时测定，并通过NRI分光分析装置的处理部对该数据进行处理并监视，根据该结果，通过反馈控制或手动操作对涂敷操作条件(供气风量、供气温度、喷涂条件、旋转滚筒(1)的转速等)进行适当调整，由此能够进行高品质的涂敷处理。 | ||
| 申请公布号 | CN102665889A | 申请公布日期 | 2012.09.12 |
| 申请号 | CN201080053957.2 | 申请日期 | 2010.12.02 |
| 申请人 | 株式会社保锐士 | 发明人 | 长谷川浩司;长门琢也;松井航 |
| 分类号 | B01J2/12(2006.01)I;A23P1/08(2006.01)I;A61J3/06(2006.01)I;B01J2/00(2006.01)I | 主分类号 | B01J2/12(2006.01)I |
| 代理机构 | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人 | 雒运朴 |
| 主权项 | 一种涂敷装置，其具备旋转滚筒，该旋转滚筒将需要处理的粉粒体收容在内部，且被驱动为绕其轴线旋转，所述涂敷装置的特征在于，在所述旋转滚筒的内部设有测定部，该测定部具备：以与所述旋转滚筒内部的粉粒体层接触的方式配置的透光构件；经由该透光构件来测定与该透光构件接触的所述粉粒体层的粒子的物性的光学传感器。 | ||
| 地址 | 日本国兵库县 | ||