发明名称 一种电路测试中可视化选取待测器件的方法
摘要 发明公开了一种电路板测试中可视化选取待测器件的方法,其特征是:依据待测器件的器件位号,通过查阅模板文件、器件明细表和元器件库,计算得出待测器件在电路板坐标系中的左上角坐标和右下角坐标;再根据电路板与电子图片的大小比例关系,换算得出待测器件在电子图片坐标系中的左上角坐标和右下角坐标;逐个计算电路板上的所有器件在电子图片坐标系中的左上角坐标和右下角坐标,生成器件位置信息表;依据用户对电子图片的点击位置,查阅器件位置信息表,获得待测器件的位号和型号。本发明方法使电路板测试中待测器件的选取更加直观,操作方便,极大降低了在电路测试过程中对测试专业知识和测试经验的依赖。
申请公布号 CN102662143A 申请公布日期 2012.09.12
申请号 CN201210122722.5 申请日期 2012.04.24
申请人 合肥工业大学 发明人 路强;刘晓平;李恒;张静;沈冠町
分类号 G01R31/28(2006.01)I 主分类号 G01R31/28(2006.01)I
代理机构 安徽省合肥新安专利代理有限责任公司 34101 代理人 何梅生
主权项 一种电路板测试中可视化选取待测器件的方法,其特征是:针对外轮廓是由横向边线和纵向边线构成的矩形电路板,设定电路板上待测器件是以待测器件的器件封装中心为几何中心的矩形轮廓,并且所述待测器件的矩形轮廓中横向与纵向两条边线分别与矩形电路板中横向边线及纵向边线相互平行,所述方法按如下步骤进行:a、在电路板测试系统的操作平台上,根据电路板的图号导入所述电路板的电子图片和模板文件、载入包含有电路板上所有器件的器件明细表,并载入元器件库;所述模板文件中包含有:作为电路板上每个器件唯一标识的器件位号、表征每个器件封装形式的封装代号、每个器件的封装中心点在电路板坐标系中的坐标位置;所述电路板坐标系是指以电路板的一个角为坐标原点O,以电路板上过坐标原点O的两条相互垂直的邻边分别为X轴和Y轴建立的电路板平面坐标系;所述器件明细表包括器件位号和器件型号;所述元器件库包含所述器件明细表中所有器件的器件型号和器件外形尺寸;b、依据所述电路板上的器件A的器件位号,查阅所述电路板的模板文件,获得器件A的封装中心点在所述电路板坐标系中的坐标位置A(x,y),依据所述电路板的器件明细表获得器件A的器件型号,依据器件A的器件型号查阅元器件库获得器件A的器件外形尺寸;根据器件A的封装中心点坐标位置A(x,y)和器件外形尺寸计算得出器件A左上角和右下角在所述电路板坐标系中的坐标位置分别为左上角坐标A1(x1,y1)和右下角坐标A2(x2,y2);针对由所述左上角坐标A1(x1,y1)和右下角坐标A2(x2,y2)所界定的器件A在电路板坐标系中的矩形坐标区域,根据所述电路板与电路板的电子图片的大小比例关系,换算得出器件A在所述电路板的电子图片坐标系中左上角和右下角的坐标位置分别为左上角坐标A1(x1,y1)和右下角坐标A2’(x2’,y2’),以所述左上角坐标A1’(x1’,y1’)和右下角坐标A2’(x2’,y2’)界定所述器件A在电路板的电子图片坐标系中的矩形坐标区域;c、按照步骤b同样的方式,逐个计算所述电路板上的所有器件在所述电路板的电子图片坐标系中的矩形坐标区域,生成对应所述电路板的器件位置信息表,所述器件位置信息表包含:器件位号、器件型号、器件在电路板中的矩形坐标区域和器件在电子图片中的矩形坐标区域;d、针对用户对电子图片的点击位置,通过查阅器件位置信息表,获得点击位置处器件的位号和型号。
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