| 发明名称 | 三维形貌痕迹比对测量仪的投影装置 | ||
| 摘要 | 本发明涉及三维形貌痕迹比对测量仪的投影装置，包括基座（1）及云台（5），基座上面设有立柱（2），立柱连接摄像机支架（3a），摄像机支架（3a）中连接有摄像机（3）及投影仪（4），其特征在于：摄像机支架（3a）上连接五维调节装置（7），投影仪（4）连接于五维调节装置（7）上。本发明的优点是投影仪可以在四维空间内任意调整，调整精确度高，其结构合理、性能稳定、操作简便，提高了物证检测工作效率。 | ||
| 申请公布号 | CN102661720A | 申请公布日期 | 2012.09.12 |
| 申请号 | CN201210116574.6 | 申请日期 | 2012.04.20 |
| 申请人 | 安徽国盾三维高科技有限公司 | 发明人 | 严继华;路振涛;孟凡忠;梁玉清 |
| 分类号 | G01B11/24(2006.01)I;G03B21/14(2006.01)I;G03B21/54(2006.01)I | 主分类号 | G01B11/24(2006.01)I |
| 代理机构 | 安徽省蚌埠博源专利商标事务所 34113 | 代理人 | 杨晋弘 |
| 主权项 | 三维形貌痕迹比对测量仪的投影装置，包括基座（1）及云台（5），基座上面设有立柱（2），立柱连接摄像机支架（3a），摄像机支架（3a）中连接有摄像机（3）及投影仪（4），其特征在于：摄像机支架（3a）上连接五维调节装置（7），投影仪（4）连接于五维调节装置（7）上。 | ||
| 地址 | 233000 安徽省蚌埠市高新区黄山大道汉旭工业园 | ||