发明名称 测试装置以及测试方法
摘要 一种测试装置,包括:失效记忆体(AFM)及标记记忆体(CMM),该失效记忆体(AFM)用以对应于被测试记忆体的各位址而记忆失效资讯,且该标记记忆体(CMM)针对各位址而记忆识别资讯,该识别资讯是用以对AFM中所记忆的失效资讯是否有效进行识别。而且,对于测试对象的位址,于自CMM中读出表示无效的识别资讯时,利用测试所新产生的失效资讯而覆写AFM内的失效资讯,另一方面于自CMM中读出表示有效的识别资讯时,利用新产生的失效资讯来更新AFM内的失效资讯并写回至AFM中。于覆写AFM的失效资讯时,将识别该失效资讯有效的识别资讯写入至CMM中。而且,于使AFM初始化时,将与初始化前识别失效资讯有效的识别资讯不同的资讯设定为初始化后识别失效资讯有效的识别资讯。
申请公布号 TWI372256 申请公布日期 2012.09.11
申请号 TW097135690 申请日期 2008.09.17
申请人 爱德万测试股份有限公司 日本 发明人 藤崎健一
分类号 G01R31/317;G11C29/00 主分类号 G01R31/317
代理机构 代理人 詹铭文 台北市中正区罗斯福路2段100号7楼之1;萧锡清 台北市中正区罗斯福路2段100号7楼之1
主权项
地址 日本