发明名称 承载盘中晶粒表面检测系统及其承载盘进/出料装置与方法
摘要 本发明之承载盘进/出料装置包含升降导柱、承托装置、线性移动装置与同步啮合装置。垂直设立之升降导柱间形成一承载盘堆叠之容置空间,而承托装置之承托盘位在该容置空间底部中心位置。线性移动装置使升降导柱得以调整其与承托盘间之距离,而同步啮合装置使升降导柱间之移动得以等距同步。操作者只需移动其中一升降导柱,升降导柱便会同时移动,且其间之中心位置仍保持在同一地方,使得承托盘之位置无须因升降导柱之调整而调整。
申请公布号 TWI372437 申请公布日期 2012.09.11
申请号 TW097106570 申请日期 2008.02.26
申请人 政美应用股份有限公司 新竹县竹北市成功八路316号 发明人 蔡政道
分类号 H01L21/677;B65G49/07 主分类号 H01L21/677
代理机构 代理人 洪荣宗 台北市松山区敦化北路201号7楼
主权项
地址 新竹县竹北市成功八路316号
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