发明名称 |
承载盘中晶粒表面检测系统及其承载盘进/出料装置与方法 |
摘要 |
本发明之承载盘进/出料装置包含升降导柱、承托装置、线性移动装置与同步啮合装置。垂直设立之升降导柱间形成一承载盘堆叠之容置空间,而承托装置之承托盘位在该容置空间底部中心位置。线性移动装置使升降导柱得以调整其与承托盘间之距离,而同步啮合装置使升降导柱间之移动得以等距同步。操作者只需移动其中一升降导柱,升降导柱便会同时移动,且其间之中心位置仍保持在同一地方,使得承托盘之位置无须因升降导柱之调整而调整。 |
申请公布号 |
TWI372437 |
申请公布日期 |
2012.09.11 |
申请号 |
TW097106570 |
申请日期 |
2008.02.26 |
申请人 |
政美应用股份有限公司 新竹县竹北市成功八路316号 |
发明人 |
蔡政道 |
分类号 |
H01L21/677;B65G49/07 |
主分类号 |
H01L21/677 |
代理机构 |
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代理人 |
洪荣宗 台北市松山区敦化北路201号7楼 |
主权项 |
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地址 |
新竹县竹北市成功八路316号 |