发明名称 肖特基装置
摘要 本发明揭示一种常规肖特基二极体(16)或具有一肖特基二极体特征之一装置(90),其系与一MOS电晶体(18、92)串联耦合,以提供漏电及崩溃电压方面之一显着改进,而正向电流中仅有一较小的降级。在反向偏压的情况下,存在一较小的反向偏压电流,但是横跨肖特基二极体(16、90)的电压由于该MOS电晶体(18、92)而保持较小。几乎全部的反向偏压电压系横跨该MOS电晶体,直至该MOS电晶体(18、92)崩溃。然而,此电晶体崩溃最初并非破坏性的,因为该肖特基二极体(16、90)会限制该电流。随着该反向偏压电压继续增加,该等肖特基二极体(16、90)开始吸收更多电压。此会增加该漏电,但是该崩溃电压在该电晶体(18、92)与该肖特基二极体(16、90)之间稍微增加。
申请公布号 TWI372470 申请公布日期 2012.09.11
申请号 TW094116366 申请日期 2005.05.19
申请人 飞思卡尔半导体公司 美国 发明人 维杰 帕沙赛拉希;维许努K 凯姆卡;朱隆华;艾米塔娃 波司
分类号 H01L33/00 主分类号 H01L33/00
代理机构 代理人 陈长文 台北市松山区敦化北路201号7楼
主权项
地址 美国