发明名称 DEFECT INSPECTION METHOD AND DEVICE THEREOF
摘要
申请公布号 KR20120099481(A) 申请公布日期 2012.09.10
申请号 KR20127017486 申请日期 2011.02.04
申请人 HITACHI HIGH-TECHNOLOGIES CORPORATION 发明人 SAKAI KAORU;MAEDA SHUNJI
分类号 G01N21/956;H01L21/66 主分类号 G01N21/956
代理机构 代理人
主权项
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