| 发明名称 | 用于测量应力和辨别粒子微观结构的测角器及其控制方法 | ||
| 摘要 | 本发明涉及用于测量应力及辨别粒子微观结构的测角器和方法。所述测角器包括基座(1)和测量头(12)，所述测量头包括X射线管和检测器弧(11)，所述测量头通过能够三维运动的自动装置可移动地适配到基座(1)。根据本发明，所述自动装置具有用于在测量过程中与旋转接头(5、7、15)和倾斜接头(3、16、9)一起产生测量头(12)的弧形运动的装置。 | ||
| 申请公布号 | CN101680849B | 申请公布日期 | 2012.09.05 |
| 申请号 | CN200780052463.0 | 申请日期 | 2007.04.03 |
| 申请人 | 压力技术公司 | 发明人 | L·索米南 |
| 分类号 | G01N23/20(2006.01)I | 主分类号 | G01N23/20(2006.01)I |
| 代理机构 | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人 | 彭武 |
| 主权项 | 一种用于测量应力和辨别粒子微观结构的测角器，包括：‑基座(1)；和‑测量头(12)，该测量头包括X射线管和检测器弧(11)，该测量头通过能够三维运动的自动装置可移动地适配到所述基座(1)；其特征在于：‑该自动装置能够在测量过程中以旋转接头(5、7、15)和倾斜接头(3、16、9)产生所述测量头(12)的弧形运动。 | ||
| 地址 | 芬兰瓦亚科斯基 | ||