发明名称 四极型质量分析装置
摘要 当增大质量扫描的扫描速度时,某离子入射到四极质量过滤器到从四极质量过滤器出射的期间的施加电压的变化量变大,由于离子的通过条件改变而离子量减少、检测灵敏度下降。本发明为了避免上述现象而在进行质量扫描时,分别决定各电压U、V的值以使扫描速度越大对杆电极施加的直流电压U与高频电压的振幅V的电压比U/V越小。由此,在基于马提厄方程式的稳定区域图中,表示质量扫描时的施加电压变化的线L的斜率变缓,特别是在高质量区域中,通过四极质量过滤器的离子的数量增加。
申请公布号 CN102037538B 申请公布日期 2012.09.05
申请号 CN200880129385.4 申请日期 2008.05.22
申请人 株式会社岛津制作所 发明人 向畑和男
分类号 G01N27/62(2006.01)I;H01J49/42(2006.01)I 主分类号 G01N27/62(2006.01)I
代理机构 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 代理人 刘新宇
主权项 一种四极型质量分析装置,具备:离子源,其将试样分子离子化;四极质量过滤器,其选择性地使在该离子源中产生的离子中的具有特定质量的离子通过;以及检测器,其检测通过了该四极质量过滤器的离子,该四极型质量分析装置的特征在于,还具备:a)四极驱动单元,其对构成上述四极质量过滤器的各电极施加将直流电压与高频电压相加得到的电压;以及b)控制单元,在以使通过上述四极质量过滤器的离子的质量依次改变的方式进行质量扫描时,上述控制单元控制上述四极驱动单元使得上述直流电压以及上述高频电压的振幅与质量相应地依次改变,并且使该直流电压与该高频电压的振幅之比与扫描速度相应地改变,其中,对于相对大的扫描速度,上述控制单元使直流电压U与高频电压的振幅V之比U/V相对减小。
地址 日本京都府