发明名称 |
一种测量动态照度分布的方法 |
摘要 |
本发明涉及一种测量动态照度分布的方法,属于光电子测量技术领域;它主要使用数字成像设备对多测点同时进行照度的测量,并用数字图像模式识别技术排除环境影响,获取到被测量空间内的动态照度分布;数字成像设备包括镜头、图像传感器、图形信号处理电路、处理器和接口电路,其中图像传感器和被测平面、透镜一起构成光学成像系统,被测平面为物空间漫反射平面,通过透镜成像在像空间平面上。本发明发挥成像系统以及数字成像设备的优势,为大空间多测点照度同时测量提供一种操作性强、方便简捷的方法;此外,通过数字图像模式识别技术,利用边缘检测有效地判别被测平面是否受到干扰并排除影响,从而实现了照度测量的准确性。 |
申请公布号 |
CN102095496B |
申请公布日期 |
2012.09.05 |
申请号 |
CN201010572941.4 |
申请日期 |
2010.12.06 |
申请人 |
宁波耀泰电器有限公司 |
发明人 |
邓平 |
分类号 |
G01J1/42(2006.01)I;G06K9/62(2006.01)I |
主分类号 |
G01J1/42(2006.01)I |
代理机构 |
杭州天欣专利事务所 33209 |
代理人 |
余木兰 |
主权项 |
一种测量动态照度分布的方法,其特征在于:它使用数字成像设备对多测点同时进行照度的测量,并用数字图像模式识别技术排除环境影响,获取到被测量空间内的动态照度分布;所述的数字成像设备包括镜头、图像传感器、图形信号处理电路、处理器和接口电路,其中图像传感器和被测平面、透镜构成光学成像系统,被测平面为物空间漫反射平面,通过透镜成像在像空间平面,即图像传感器上;动态照度分布的测量的具体步骤如下:使用数字成像设备获取无干扰情况下的数字图像I0,并对图像I0进行边缘检测;根据边缘检测结果,确定测点所在的被测平面Si,被测平面Si由测点组成,测点的集合为P;确定被测平面Si照度值E与数字图像灰度值Y之间函数关系F(Y);在正常干扰情况下获取数字图像Ii,并对图像Ii进行边缘检测;利用数字图像I0和Ii的边缘特征进行模式识别,确定排除干扰后有效测点集合P';利用有效测点所在平面对应的F(Y)函数,可计算被测平面Si的平均照度、照度均匀度,即得到被测空间的动态照度分布。 |
地址 |
315400 浙江省宁波市余姚市远东工业城CN8区 |