发明名称 步进应力加速退化试验优化设计方法
摘要 本发明公开了一种步进应力加速退化试验优化设计方法,包括以下几个步骤,步骤一、确定产品性能退化模型,加速模型和可靠度函数;步骤二、建立目标函数;步骤三、确定约束条件和优化变量;步骤四、实现优化算法;本发明以p分位寿命可靠度的渐进方差最小为目标。计算p分位寿命可靠度的渐进方差时,采用差分方式对可靠度函数求偏导,该方法解决了复杂函数求导困难,容易出错等问题;根据工程经验提出对每一应力下监测次数的约束条件,使试验优化结果更具有工程实际意义,M1≥M2≥……≥MK≥10的约束也大大减少了计算次数,提高了试验优化速率;将试验应力作为优化变量,并根据实际情况给出应力水平的约束条件,对试验方案更系统更全面地进行优化。
申请公布号 CN101793927B 申请公布日期 2012.09.05
申请号 CN201010033998.7 申请日期 2010.01.12
申请人 北京航空航天大学 发明人 李晓阳;葛蒸蒸;姜同敏
分类号 G01R31/00(2006.01)I 主分类号 G01R31/00(2006.01)I
代理机构 北京永创新实专利事务所 11121 代理人 周长琪
主权项 1.步进应力加速退化试验优化设计方法,其特征在于,包括以下几个步骤:步骤一、确定产品性能退化模型,加速模型和可靠度函数;确定产品性能退化模型和产品的加速模型,进而确定退化模型的概率密度分布函数f(t,C)和可靠性函数R(t);步骤二、建立目标函数;选取p阶分位寿命估计值的可靠度的渐进方差最小作为目标函数;即:min    AsVar(R(ξ<sub>p</sub>))    (1)其中,ξ<sub>p</sub>是产品在正常条件下的p阶分位寿命的估计值;具体为:(1)建立产品性能退化模型的对数似然函数;设K个应力水平的步进应力加速退化试验,样本量为n,产品性能监测时间间隔为Δt,试验应力为S<sub>k</sub>,各应力水平的性能监测次数为M<sub>k</sub>,试验中共监测M次,<img file="FDA0000156722070000011.GIF" wi="288" he="75" />k=1,2,…,K,每一应力水平的试验时间为M<sub>k</sub>·Δt,总试验时间为M·Δt,每次进行监控的时间为t<sub>kij</sub>,k=1,...,K;i=1,...,n;j=1,...,M<sub>k</sub>,监控到的性能值为y<sub>ikj</sub>,性能增量ΔD<sub>ikj</sub>=y<sub>ikj</sub>-y<sub>ik(j-1)</sub>,由采用性能增量表示概率密度分布函数f(Δt,ΔD),得到极大似然函数L,进而得到对数似然函数lnL;(2)求解产品在正常条件下的p阶分位寿命的估计值ξ<sub>p</sub>;由步骤一确定的可靠性函数R(t),对给定的分位点p,则<img file="FDA0000156722070000012.GIF" wi="234" he="69" />是产品在正常条件下的p分位寿命的估计值;(3)求解渐进方差AsVar(R(ξ<sub>p</sub>));ξ<sub>p</sub>的估计值<img file="FDA0000156722070000013.GIF" wi="42" he="69" />在n→∞时,服从均值为ξ<sub>p</sub>,方差为h<sup>T</sup>I<sup>-1</sup>(θ)h,记为AsVar(R(ξ<sub>p</sub>))的渐进正态分布:即,渐进方差为AsVar(R(ξ<sub>p</sub>))=h<sup>T</sup>I<sup>-1</sup>(θ)h;其中:θ为可靠度函数R(t)中的未知参数,假设存在n个未知参数,则θ=[θ<sub>1</sub>,θ<sub>2</sub>,…,θ<sub>n</sub>];<maths num="0001"><![CDATA[<math><mrow><msup><mi>h</mi><mi>T</mi></msup><mo>=</mo><mrow><mo>(</mo><mfrac><mrow><mo>&PartialD;</mo><mi>R</mi><mrow><mo>(</mo><msub><mi>&xi;</mi><mi>p</mi></msub><mo>)</mo></mrow></mrow><msub><mrow><mo>&PartialD;</mo><mi>&theta;</mi></mrow><mn>1</mn></msub></mfrac><mo>,</mo><mfrac><mrow><mo>&PartialD;</mo><mi>R</mi><mrow><mo>(</mo><msub><mi>&xi;</mi><mi>p</mi></msub><mo>)</mo></mrow></mrow><msub><mrow><mo>&PartialD;</mo><mi>&theta;</mi></mrow><mn>2</mn></msub></mfrac><mo>,</mo><mo>&CenterDot;</mo><mo>&CenterDot;</mo><mo>&CenterDot;</mo><mo>,</mo><mfrac><mrow><mo>&PartialD;</mo><mi>R</mi><mrow><mo>(</mo><msub><mi>&xi;</mi><mi>p</mi></msub><mo>)</mo></mrow></mrow><msub><mrow><mo>&PartialD;</mo><mi>&theta;</mi></mrow><mi>n</mi></msub></mfrac><mo>)</mo></mrow><mo>-</mo><mo>-</mo><mo>-</mo><mrow><mo>(</mo><mn>2</mn><mo>)</mo></mrow></mrow></math>]]></maths><img file="FDA0000156722070000021.GIF" wi="1641" he="548" />I(θ)为θ的Fisher信息矩阵,是一个三阶正定方阵;①采用差分方法求h;采用差分方法对可靠度函数求偏导,得:<maths num="0002"><![CDATA[<math><mrow><mfrac><mrow><mo>&PartialD;</mo><mi>R</mi><mrow><mo>(</mo><msub><mi>&xi;</mi><mi>p</mi></msub><mo>)</mo></mrow></mrow><msub><mrow><mo>&PartialD;</mo><mi>&theta;</mi></mrow><mi>i</mi></msub></mfrac><mo>=</mo><munder><mi>lim</mi><mrow><mi>&Delta;</mi><msub><mi>&theta;</mi><mi>i</mi></msub><mo>&RightArrow;</mo><mn>0</mn></mrow></munder><mfrac><mrow><mi>R</mi><mrow><mo>(</mo><msub><mi>&xi;</mi><mi>p</mi></msub><mo>,</mo><msub><mi>&theta;</mi><mi>i</mi></msub><mo>+</mo><mi>&Delta;</mi><msub><mi>&theta;</mi><mi>i</mi></msub><mo>)</mo></mrow><mo>-</mo><mi>R</mi><mrow><mo>(</mo><msub><mi>&xi;</mi><mi>p</mi></msub><mo>,</mo><msub><mi>&theta;</mi><mi>i</mi></msub><mo>)</mo></mrow></mrow><msub><mi>&Delta;&theta;</mi><mi>i</mi></msub></mfrac><mo>-</mo><mo>-</mo><mo>-</mo><mrow><mo>(</mo><mn>4</mn><mo>)</mo></mrow></mrow></math>]]></maths>式中:θ<sub>i</sub>∈[θ<sub>1</sub>,θ<sub>2</sub>,…,θ<sub>n</sub>],Δθ<sub>i</sub>趋于0,取值为θ<sub>i</sub>的10<sup>-6</sup>或更小;②推导Fisher信息矩阵I(θ);根据对数似然函数lnL,对参数θ<sub>i</sub>求一阶偏导和二阶偏导,求解式(3),得到信息矩阵I(θ);③得到p阶分位寿命可靠度估计的渐进方差,建立目标函数;AsVar(R(ξ<sub>p</sub>))是为关于样本量n,监测间隔Δt,监测次数[M<sub>1</sub>,M<sub>2</sub>,......,M<sub>K</sub>]和试验应力[S<sub>1</sub>,S<sub>2</sub>,......,S<sub>K</sub>]的函数,最后将p阶分位寿命可靠度的渐进方差最小作为目标函数,即min AsVar(R(ξ<sub>p</sub>));步骤三、确定约束条件和优化变量;①确定约束条件:(1)试验总费用C<sub>t</sub>包括:a)单位时间内的试验费用C<sub>o</sub>,单位时间:元/小时;b)试验样本单价C<sub>d</sub>;试验总费用C<sub>t</sub>表示为:<maths num="0003"><![CDATA[<math><mrow><msub><mi>C</mi><mi>t</mi></msub><mo>=</mo><mi>n</mi><mo>&CenterDot;</mo><msub><mi>C</mi><mi>d</mi></msub><mo>+</mo><mi>&Delta;t</mi><mo>&CenterDot;</mo><munderover><mi>&Sigma;</mi><mrow><mi>k</mi><mo>=</mo><mn>1</mn></mrow><mi>K</mi></munderover><msub><mi>M</mi><mi>k</mi></msub><mo>&CenterDot;</mo><msub><mi>C</mi><mi>o</mi></msub><mo>-</mo><mo>-</mo><mo>-</mo><mrow><mo>(</mo><mn>5</mn><mo>)</mo></mrow></mrow></math>]]></maths>(2)监测次数:M<sub>1</sub>≥M<sub>2</sub>≥……≥M<sub>K</sub>≥10;每一个应力下的性能检测次数大于等于10次;(3)应力水平:S<sub>0</sub><S<sub>1</sub><S<sub>2</sub><……<S<sub>K</sub>≤S<sub>max</sub>;其中,S<sub>1</sub>至S<sub>K</sub>表示K个应力水平,S<sub>0</sub>为产品使用时的正常应力,S<sub>max</sub>为产品的工作应力极限;②确定优化变量;(1)样本量n;(2)监测时间间隔Δt;(3)监测次数M<sub>k</sub>,(k=1,2,…K);(4)应力水平S<sub>k</sub>,(k=1,2,…K);即步进应力加速退化试验共投入n个样本,对每一样本每隔Δt小时监测一次,进行K步应力水平试验,每应力水平S<sub>k</sub>下,监测次数为M<sub>k</sub>;步骤四、实现优化算法;由步骤一至步骤三,确定步进应力加速退化试验方案的优化问题,用数学描述为:min  AsVar(R(ξ<sub>p</sub>))<maths num="0004"><![CDATA[<math><mrow><mfenced open='' close=''><mtable><mtr><mtd><mi>s</mi><mo>.</mo><mi>t</mi><mo>.</mo></mtd><mtd><mi>n</mi><mo>&CenterDot;</mo><msub><mi>C</mi><mi>d</mi></msub><mo>+</mo><mi>&Delta;t</mi><mo>&CenterDot;</mo><munderover><mi>&Sigma;</mi><mrow><mi>k</mi><mo>=</mo><mn>1</mn></mrow><mi>K</mi></munderover><msub><mi>M</mi><mi>k</mi></msub><mo>&CenterDot;</mo><msub><mi>C</mi><mi>o</mi></msub><mo>&le;</mo><msub><mi>C</mi><mi>t</mi></msub></mtd></mtr></mtable></mfenced><mo>-</mo><mo>-</mo><mo>-</mo><mrow><mo>(</mo><mn>6</mn><mo>)</mo></mrow></mrow></math>]]></maths>M<sub>1</sub>≥M<sub>2</sub>≥……≥M<sub>K</sub>≥10S<sub>0</sub><S<sub>1</sub><S<sub>2</sub><……<S<sub>K</sub>≤S<sub>max</sub>上式为本发明中的优化模型,其中,需要优化的决策变量为n,Δt,M<sub>k</sub>,S<sub>k</sub>,它们的取值均为正整数;具体为:首先根据工程经验确定退化模型式中的参数[θ<sub>1</sub>,θ<sub>2</sub>,…,θ<sub>n</sub>]、产品性能初值y<sub>0</sub>、产品退化临界值C、单位时间内的试验费用C<sub>o</sub>、试验样本单价C<sub>d</sub>、试验总费用C<sub>t</sub>、产品试验正常应力S<sub>0</sub>、最高应力S<sub>K</sub>、试验应力水平数K;然后根据步骤三所述的约束条件,确定所有满足约束条件的试验应力[S<sub>1</sub>,S<sub>2</sub>,…,S<sub>K</sub>]和监测次数[M<sub>1</sub>,M<sub>2</sub>,…,M<sub>K</sub>],计算每个满足约束条件时相应的p阶分位寿命可靠度的渐进方差,最后选取方差最小的试验方案作为最优方案。
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