发明名称 一种发射功率的检测方法及装置
摘要 本发明公开了一种发射功率的检测方法及装置。其中所述方法包括以下步骤:选择m个子帧作为待检测子帧,所述m为大于1的整数;依次对所述待检测子帧的下行导频时隙进行n点功率采样,所述n为正整数,其中,后一下行导频时隙的采样点相对于前一下行导频时隙对应的采样点具有时间偏移ΔT;对所述n×m个功率采样点的功率采样结果进行平均,得到所述下行导频信号的平均功率,通过所述下行导频信号的平均功率确定所述发射功率。本发明还公开了一种功率检测装置。本发明技术方案的应用,能提高功率检测的精度,消除了不同码字对功率检测值的影响,消除了射频通道的时延对功率检测值的影响,并能节省资源。
申请公布号 CN101577591B 申请公布日期 2012.09.05
申请号 CN200810105784.9 申请日期 2008.05.05
申请人 大唐移动通信设备有限公司 发明人 张世进;林卫;蔡月民;熊军
分类号 H04B17/00(2006.01)I;H04W52/18(2009.01)I 主分类号 H04B17/00(2006.01)I
代理机构 北京德恒律师事务所 11306 代理人 马佑平;梁永
主权项 一种基站发射功率的检测方法,其特征在于,包括以下步骤:选择m个子帧作为待检测子帧,所述m为大于1的整数;依次对所述待检测子帧的下行导频时隙进行n点功率采样,所述n为正整数,其中,后一下行导频时隙的采样点相对于前一下行导频时隙对应的采样点具有时间偏移ΔT;对上述n×m个功率采样点得到的功率采样结果进行平均,得到下行导频信号的平均功率,通过所述下行导频信号的平均功率确定发射功率,其中,确定所述时间偏移ΔT包括以下步骤:确定基站数字中频根升余弦RRC成形滤波器的内插倍数;确定所需的功率检测精度,通过实验仿真确定采样间隔,使得在所述采样间隔下获得的各采样点的平均功率,相对于经过所述基站数字中频RRC成形滤波器滤波的所述下行导频信号的实际功率不失真;将所述时间偏移ΔT取值为所述采样间隔。
地址 100083 北京市海淀区学院路29号