| 发明名称 | 一种全光纤条件下实现外差测量的方法 | ||
| 摘要 | 一种全光纤条件下实现外差测量的方法，包括一个光纤环形器、一个光纤耦光V形槽、一段端面有亚波长金属光栅的光纤和第一、第二两个光功率计，端面有亚波长金属光栅的光纤是实现对该光纤端面不同偏振态入射光的透射率和偏振率的控制的第一全光纤光偏振控制器；入射光到光纤环形器的第一端口，环形器第三端口通过光纤直接连接第二光功率计，入射光通过环形器第一端口至光纤环形器的第二端口和全光纤光偏振控制器的透射光通过一个光纤耦光V形槽耦合入一段光纤到第一光功率计测量光强。本发明公开了一种全光纤条件下实现外差测量的方法，设置光路包括一个光纤环形器、一个光纤耦光V形槽、一段端面有亚波长金属光栅的光纤和两个光功率计。 | ||
| 申请公布号 | CN102141413B | 申请公布日期 | 2012.09.05 |
| 申请号 | CN201110002022.8 | 申请日期 | 2011.01.06 |
| 申请人 | 南京大学 | 发明人 | 陆延青;赵云;冯婧;徐飞;胡伟 |
| 分类号 | G01D5/28(2006.01)I;B81C1/00(2006.01)I;G02B27/28(2006.01)I | 主分类号 | G01D5/28(2006.01)I |
| 代理机构 | 南京天翼专利代理有限责任公司 32112 | 代理人 | 陈建和 |
| 主权项 | 一种全光纤条件下实现外差测量的方法，其特征是：包括一个光纤环形器、一个光纤耦光V形槽、一段端面有亚波长金属光栅的光纤和第一、第二两个光功率计，端面有亚波长金属光栅的光纤是实现对该光纤端面不同偏振态入射光的透射率和偏振率的控制的第一全光纤光偏振控制器；入射光到光纤环形器的第一端口，环形器第三端口通过光纤直接连接第二光功率计，入射光通过环形器第一端口至光纤环形器的第二端口和全光纤光偏振控制器的透射光通过一个光纤耦光V形槽耦合入一段光纤到第一光功率计测量光强；全光纤光偏振控制器的构造是：在光纤端面设有金属线栅，金属线栅的周期为0.05‑5微米，组成金属线栅是金属膜，金属膜厚为0.01‑2微米，占空比x为0<x<1之间的任意值；金属线栅是利用微纳加工技术直接或间接地在光纤端面制备金属线栅，利用金属线栅对特定偏振光的选择性反射或透射效应，实现对特定光波段的反射光或透射光的偏振性控制。 | ||
| 地址 | 210093 江苏省南京市鼓楼区汉口路22号 | ||