发明名称 一种绒面结构BZO/HGZO复合薄膜及应用
摘要 一种绒面结构BZO/HGZO复合薄膜,具有玻璃/绒面结构BZO/高电导率HGZO结构,其中BZO为B掺杂ZnO;HGZO为H化Ga掺杂ZnO;其制备方法是利用MOCVD技术和磁控溅射技术相结合生长高迁移率绒面结构BZO/高电导率HGZO薄膜;该复合薄膜可应用于pin型μc-Si薄膜太阳电池和a-Si/μc-Si叠层薄膜太阳电池。本发明的优点:MOCVD技术获得的BZO薄膜具有绒面结构,同时在较低B掺杂情况下有效地降低了自由载流子浓度,提高了薄膜电子迁移率,减少了对i近红外区域的吸收;磁控溅射技术生长高电导并且具有高电子迁移率的HGZO薄膜,降低了对太阳光谱中近红外区域的吸收。
申请公布号 CN102176471B 申请公布日期 2012.09.05
申请号 CN201110058727.1 申请日期 2011.03.11
申请人 南开大学 发明人 陈新亮;耿新华;王斐;闫聪博;张德坤;孙建;魏长春;张建军;张晓丹;赵颖
分类号 H01L31/0352(2006.01)I;H01L31/0232(2006.01)I;H01L31/18(2006.01)I;C23C16/40(2006.01)I;C23C16/44(2006.01)I;C23C14/35(2006.01)I;C23C14/06(2006.01)I;H01L31/20(2006.01)I;H01L31/042(2006.01)I 主分类号 H01L31/0352(2006.01)I
代理机构 天津佳盟知识产权代理有限公司 12002 代理人 侯力
主权项 一种绒面结构BZO/HGZO复合薄膜,其特征在于:具有玻璃/绒面结构BZO/高电导率HGZO结构,其中BZO为B掺杂ZnO,即ZnO:B,BZO薄膜厚度为800‑2500nm;HGZO为H化Ga掺杂ZnO,即ZnO:Ga/H,HGZO薄膜厚度为200‑800nm;所述绒面结构BZO/HGZO复合薄膜的制备方法,利用MOCVD技术和磁控溅射技术相结合生长高迁移率绒面结构BZO/高电导率HGZO薄膜,由以下步骤实现:1)利用MOCVD技术,用纯度为99.995%的二乙基锌(DEZn)和水作为源材料,氢稀释浓度为1%的硼烷B2H6作为掺杂气体,生长B低掺杂ZnO透明导电薄膜,掺杂剂流量百分比含量为(0.1‑1)%,基片衬底温度为130‑180℃;2)利用磁控溅射技术,用纯度为99.99%的ZnO:Ga2O3陶瓷靶材作为溅射靶材,掺杂剂Ga2O3的重量百分比含量为(0.5‑1.0)%,以及H2作为气源材料,溅射气体采用Ar气体,生长高迁移率氢化镓掺杂ZnO(ZnO:Ga/H,HGZO)薄膜,玻璃基片衬底温度为25‑250℃。
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