发明名称 | 红外线分析装置 | ||
摘要 | 本发明提供一种红外线分析装置,其使用红外光分析检查对象物的特性,具有:第1测头,其具有多个光源和多边形状的光学元件,上述光源配置在上述检查对象物的一侧,出射应向上述检查对象物照射的波长不同的红外光,上述光学元件配置在该光源和上述检查对象物之间,使从上述多个光源出射的各种红外光多重反射,从而使强度分布均匀化;以及第2测头,其具有检测器,上述检测器配置在上述检查对象物的另一侧,检测经由上述检查对象物的红外光。 | ||
申请公布号 | CN102654454A | 申请公布日期 | 2012.09.05 |
申请号 | CN201210040057.5 | 申请日期 | 2012.02.20 |
申请人 | 横河电机株式会社 | 发明人 | 市泽康史;堀越久美子;辻井敦;角田重幸 |
分类号 | G01N21/35(2006.01)I | 主分类号 | G01N21/35(2006.01)I |
代理机构 | 北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112 | 代理人 | 何立波;张天舒 |
主权项 | 一种红外线分析装置,其使用红外光分析检查对象物的特性,其特征在于,具有:第1测头,其具有多个光源和多边形的光学元件,上述光源配置在上述检查对象物的一侧,出射应照射到上述检查对象物上的波长不同的红外光,上述光学元件配置在该光源和上述检查对象物之间,使从上述多个光源出射的各种红外光多重反射而使强度分布均匀化;以及第2测头,其具有检测器,该检测器配置在上述检查对象物的另一侧,检测经过了上述检查对象物的红外光。 | ||
地址 | 日本东京 |