发明名称 |
场效应管阈值电压漂移测量方法 |
摘要 |
本发明公开了一种场效应管阈值电压漂移测量方法,涉及场效应管电学特性测量技术领域,该方法包括步骤:在所述场效应管栅极施加恒定栅偏压Vstress一段时间后,不撤去Vstress,对栅极和漏极分别施加测量信号Vgm和Vdm,得到漏极电流-栅极电压转移特性曲线;将所述转移特性曲线与未加栅偏压Vstress时分别对栅极和漏极施加测量信号Vgm和Vdm测得的初始转移特性曲线比较得到所述场效应管的阈值电压漂移值。本发明减小了测量过程中外加测量信号对场效应管电学特性的影响,能准确地测量场效应管在栅偏压作用下的阈值电压漂移特性。 |
申请公布号 |
CN102654556A |
申请公布日期 |
2012.09.05 |
申请号 |
CN201110417426.3 |
申请日期 |
2011.12.14 |
申请人 |
京东方科技集团股份有限公司;北京京东方显示技术有限公司 |
发明人 |
朱夏明;孙亮;郝昭慧;林承武;邵喜斌 |
分类号 |
G01R31/26(2006.01)I |
主分类号 |
G01R31/26(2006.01)I |
代理机构 |
北京路浩知识产权代理有限公司 11002 |
代理人 |
王莹 |
主权项 |
一种场效应管阈值电压漂移测量方法,其特征在于,在所述场效应管栅极施加恒定栅偏压Vstress一段时间后,不撤去Vstress,对栅极和漏极分别施加测量信号Vgm和Vdm,得到漏极电流‑栅极电压转移特性曲线;将所述转移特性曲线与未加栅偏压Vstress时分别对栅极和漏极施加测量信号Vgm和Vdm测得的初始转移特性曲线比较得到所述场效应管的阈值电压漂移值。 |
地址 |
100015 北京市朝阳区酒仙桥路10号 |