X波段环行器测试装置

摘要

本实用新型公开了一种X波段环行器测试装置，包括有校准件、测试件；校准件包括有底座、基板、两个SMA接头，两个SMA接头分别固定于底座底座上表面的两端处，基板固定在底座的上表面，基板上表面具有微带线；测试件包括有底座、三块基板、三个SMA接头、压片，三个SMA接头分别固定于底座的三个端处外侧，三块基板均固定在底座上表面，每块基板上表面均具有微带线，每条微带线的另一端设有测试引出端口悬于所在基板外，测试件的中间位置留有一定空间用于推送环形器进入空间进行测试。本实用新型的优点在于结构简单、加工方便、体积紧凑、重量轻。

主权项

一种X波段环行器测试装置，其特征在于，所述测试装置包括有校准件、测试件；所述校准件包括有矩形体结构的底座、基板、两个SMA接头，两个SMA接头分别固定于底座上表面的两端处，基板固定在底座的上表面，基板上表面具有微带线，其两端分别固定于两SMA接头；所述测试件包括有多边形柱体结构的底座、三块基板、三个SMA接头、压片，三个SMA接头分别固定于底座上表面的三个端处，三块基板均固定在底座上表面，每块基板上表面均具有微带线，每条微带线的一端固定于一个SMA接头，每条微带线的另一端设有测试引出端口悬于所在基板外，三块基板之间的位置留有一定空间，推送环形器进入空间进行测试，空间容纳有压片，压片能够将测试引出端口紧压在待测环行器的三端口处；所述校准件的微带线长度为测试件任意两条微带线的长度之和。