发明名称 |
一种米类加工精度的检验方法 |
摘要 |
一种米类加工精度的检验方法,主要用于检验大米的加工精度。该方法首先是将待测样品进行加热处理,其加热温度为150℃~250℃,加热时间为1min~25min,使样品的留皮部分变色,再由人工或仪器检验该样品留皮程度,再与标准样品比较,判断出该样品的加工精度。本方法可以消除垩白粒对米类加工精度检验的影响,实现米类加工精度的准确测量;且可替代原染色法,不使用化学试剂,安全环保。 |
申请公布号 |
CN101551376B |
申请公布日期 |
2012.09.05 |
申请号 |
CN200810045086.4 |
申请日期 |
2008.03.31 |
申请人 |
国家粮食储备局成都粮食储藏科学研究所;株式会社佐竹 |
发明人 |
董德良;张华昌;王杏娟;石恒;马鑫;松岛秀昭;河野元信;石突裕树;江盛贵之 |
分类号 |
G01N33/10(2006.01)I;G01N1/28(2006.01)I |
主分类号 |
G01N33/10(2006.01)I |
代理机构 |
成都科奥专利事务所(普通合伙) 51101 |
代理人 |
尹光成;余丽生 |
主权项 |
一种米类加工精度的检验方法,其特征在于:先要将待测样品米粒进行加热处理,使待测样品米粒留皮的颜色与其它部分的颜色呈现出明显差异,其加热温度控制在150℃~250℃,加热时间为1min~25min,加热结束后取出待测样品米粒自然冷却,之后再将此冷却后的待测样品米粒的留皮程度与标准样品进行比较,从而判断出待测样品米粒的加工精度。 |
地址 |
610031 四川省成都市青羊区花牌坊街95号 |