发明名称 一种米类加工精度的检验方法
摘要 一种米类加工精度的检验方法,主要用于检验大米的加工精度。该方法首先是将待测样品进行加热处理,其加热温度为150℃~250℃,加热时间为1min~25min,使样品的留皮部分变色,再由人工或仪器检验该样品留皮程度,再与标准样品比较,判断出该样品的加工精度。本方法可以消除垩白粒对米类加工精度检验的影响,实现米类加工精度的准确测量;且可替代原染色法,不使用化学试剂,安全环保。
申请公布号 CN101551376B 申请公布日期 2012.09.05
申请号 CN200810045086.4 申请日期 2008.03.31
申请人 国家粮食储备局成都粮食储藏科学研究所;株式会社佐竹 发明人 董德良;张华昌;王杏娟;石恒;马鑫;松岛秀昭;河野元信;石突裕树;江盛贵之
分类号 G01N33/10(2006.01)I;G01N1/28(2006.01)I 主分类号 G01N33/10(2006.01)I
代理机构 成都科奥专利事务所(普通合伙) 51101 代理人 尹光成;余丽生
主权项 一种米类加工精度的检验方法,其特征在于:先要将待测样品米粒进行加热处理,使待测样品米粒留皮的颜色与其它部分的颜色呈现出明显差异,其加热温度控制在150℃~250℃,加热时间为1min~25min,加热结束后取出待测样品米粒自然冷却,之后再将此冷却后的待测样品米粒的留皮程度与标准样品进行比较,从而判断出待测样品米粒的加工精度。
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