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经营范围
发明名称
化学机械研磨系统
摘要
在半导体晶圆之化学机械研磨系统中,载盘(106)系配置为提供易于移除在其中心的研磨垫,更避免在研磨期间内其边缘研磨垫的剥落。容纳研磨垫的载盘表面包括以环形部分(302)所围绕的大体上圆形中间部分(300)。中间部分(300)系被刻槽,以提供一缩小的附着表面区域,以将研磨垫的内部分耦合到载盘(106)。具有低表面湿润系数的第一氟聚合物涂布层会被施加到中间部分(300)。具有高表面湿润系数的第二氟聚合物涂布层则会被施加到环形部分(302)。
申请公布号
TWI371788
申请公布日期
2012.09.01
申请号
TW093132647
申请日期
2004.10.28
申请人
德州仪器公司 美国
发明人
史大卫;苏特
分类号
H01L21/304
主分类号
H01L21/304
代理机构
代理人
蔡中曾 台北市大安区敦化南路1段245号8楼;黄庆源 台北市大安区敦化南路1段245号8楼
主权项
地址
美国
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