发明名称 化学机械研磨系统
摘要 在半导体晶圆之化学机械研磨系统中,载盘(106)系配置为提供易于移除在其中心的研磨垫,更避免在研磨期间内其边缘研磨垫的剥落。容纳研磨垫的载盘表面包括以环形部分(302)所围绕的大体上圆形中间部分(300)。中间部分(300)系被刻槽,以提供一缩小的附着表面区域,以将研磨垫的内部分耦合到载盘(106)。具有低表面湿润系数的第一氟聚合物涂布层会被施加到中间部分(300)。具有高表面湿润系数的第二氟聚合物涂布层则会被施加到环形部分(302)。
申请公布号 TWI371788 申请公布日期 2012.09.01
申请号 TW093132647 申请日期 2004.10.28
申请人 德州仪器公司 美国 发明人 史大卫;苏特
分类号 H01L21/304 主分类号 H01L21/304
代理机构 代理人 蔡中曾 台北市大安区敦化南路1段245号8楼;黄庆源 台北市大安区敦化南路1段245号8楼
主权项
地址 美国