发明名称 感测试片结构
摘要 一种感测试结构,包含绝缘基板以及线路金属图案总成,该线路金属图案总成作为测试电极,包含由下而上堆叠的第一金属图案层、第二金属图案层、第三金属图案层、第四金属图案层,以及第五金属图案层,其中第一金属图案层、第二金属图案层、第三金属图案层、第四金属图案层及第五图案层的图形及位置完全重叠,且第一金属图案层及第二金属图案层为奈米级金属膜,均匀度极佳,且具有低电阻,使后续测试电流量稳定,而能避免数据误判并提供较快的测试速度。
申请公布号 TWM436835 申请公布日期 2012.09.01
申请号 TW101204819 申请日期 2012.03.16
申请人 江慧萍 新北市林口区南势二街338号;李素富 新北市林口区南势二街338号;许秀英 新北市林口区南势二街338号 发明人 林玉麟
分类号 G01N33/50 主分类号 G01N33/50
代理机构 代理人 洪尧顺 台北市内湖区行爱路176号3楼
主权项
地址 新北市林口区南势二街338号