发明名称 半导体晶片之分离
摘要 一种包含多重金属装置晶片[例如纵型发光二极体(VLED)、电源装置、雷射二极体、及纵型空腔表面发射雷射装置晶片]的晶圆组件之切割技术。据此而制造的装置产量较大,且具有比知的金属装置更大的及强化的效能的优点,例如较高的发光二极体亮度及增加的热导电度。此外,此种技术可适用于其金属装置之散热速度很高、且金属装置具有原本已被移除之非(或是低)热导通及/或非(或是低)电导通载板的GaN基底的电子装置。
申请公布号 TWI371791 申请公布日期 2012.09.01
申请号 TW096137791 申请日期 2007.10.09
申请人 旭明光电股份有限公司 苗栗县竹南镇新竹科学工业园区科中路13号7楼 发明人 朱振甫;段忠;陈长安;郑兆祯;朱俊宜;刘文煌;郑好钧;樊峯旭;颜睿康
分类号 H01L21/304;H01L33/00 主分类号 H01L21/304
代理机构 代理人 周良谋 新竹市东大路1段118号10楼;周良吉 新竹市东大路1段118号10楼
主权项
地址 苗栗县竹南镇新竹科学工业园区科中路13号7楼