发明名称 |
半导体晶片之分离 |
摘要 |
一种包含多重金属装置晶片[例如纵型发光二极体(VLED)、电源装置、雷射二极体、及纵型空腔表面发射雷射装置晶片]的晶圆组件之切割技术。据此而制造的装置产量较大,且具有比知的金属装置更大的及强化的效能的优点,例如较高的发光二极体亮度及增加的热导电度。此外,此种技术可适用于其金属装置之散热速度很高、且金属装置具有原本已被移除之非(或是低)热导通及/或非(或是低)电导通载板的GaN基底的电子装置。 |
申请公布号 |
TWI371791 |
申请公布日期 |
2012.09.01 |
申请号 |
TW096137791 |
申请日期 |
2007.10.09 |
申请人 |
旭明光电股份有限公司 苗栗县竹南镇新竹科学工业园区科中路13号7楼 |
发明人 |
朱振甫;段忠;陈长安;郑兆祯;朱俊宜;刘文煌;郑好钧;樊峯旭;颜睿康 |
分类号 |
H01L21/304;H01L33/00 |
主分类号 |
H01L21/304 |
代理机构 |
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代理人 |
周良谋 新竹市东大路1段118号10楼;周良吉 新竹市东大路1段118号10楼 |
主权项 |
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地址 |
苗栗县竹南镇新竹科学工业园区科中路13号7楼 |