发明名称 测试装置以及校正用元件
摘要 一种测试装置,包括:第1比较器以及第2比较器,在所给予的取样时脉的时刻,对被测试元件所输出的被测量信号进行测量;判定部,根据第1以及第2比较器的测量结果,来判定被测试元件的良否;控制部,使第1以及第2比较器输入预先施加有抖动的调整信号并分别对该调整信号进行取样;偏斜计算部,根据第1比较器的取样结果以及第2比较器的取样结果,对第1以及第2比较器间的偏斜进行计算;以及相位调整部,根据偏斜计算部所计算出的偏斜,对第1以及第2比较器的至少任一者的被测量信号或取样时脉中至少任一个的相位进行调整。
申请公布号 TWI371593 申请公布日期 2012.09.01
申请号 TW097121245 申请日期 2008.06.06
申请人 爱德万测试股份有限公司 日本 发明人 石田雅裕
分类号 G01R31/317;G01R31/3193 主分类号 G01R31/317
代理机构 代理人 詹铭文 台北市中正区罗斯福路2段100号7楼之1;萧锡清 台北市中正区罗斯福路2段100号7楼之1
主权项
地址 日本