发明名称 | 位置侦测的装置及方法 | ||
摘要 | 本发明提供一种位置侦测的装置与方法,位置侦测的装置包含多数条导电条相迭构成的多数个相迭区,其中相迭于任一相迭区的一对导电条在电性接触形成一接触点时构成一被压触相迭区。依据被压触相迭区,可判断出每一个压触。藉由判断每一个被压触相迭区的接触阻抗,可判断出每一个压触的总接触阻抗,其中跨相迭区的压触的总接触阻抗为相应相同压触的所有相迭区的接触阻抗的并联阻抗。 | ||
申请公布号 | CN102023742B | 申请公布日期 | 2012.08.29 |
申请号 | CN201010152216.1 | 申请日期 | 2010.04.16 |
申请人 | 禾瑞亚科技股份有限公司 | 发明人 | 叶尚泰;陈家铭;何顺隆 |
分类号 | G06F3/041(2006.01)I | 主分类号 | G06F3/041(2006.01)I |
代理机构 | 北京中原华和知识产权代理有限责任公司 11019 | 代理人 | 寿宁;张华辉 |
主权项 | 一种位置侦测的装置,其特征在于包括:一感应器,包括多数条导电条相迭构成的多数个相叠区,其中相迭于任一相叠区的一对导电条因电性接触形成一接触点时构成一被压触相叠区;一驱动器,分别提供一高电位与一低电位;一侦测器,侦测至少一导电条的一讯号;一选择器,操作性耦合该些导电条于该驱动器与该侦测器;以及一控制器,藉由控制该驱动器、该侦测器与该选择器进行至少以下作业:判断压触在该些相叠区上的每一个压触;以及判断每一个压触的一总接触阻抗,其中跨相叠区的压触的该总接触阻抗为该跨相叠区的压触的所有相叠区的一接触阻抗的并联阻抗。 | ||
地址 | 中国台湾台北市内湖区瑞光路302号11楼 |