发明名称 一种SOC的功能测试系统
摘要 本发明提供一种SOC的功能测试系统,包括测试机台以及受控于测试机台用于测试待测芯片的机械手;还包括测试子板、设置有液晶显示屏的测试主板,所述测试主板控制测试机台工作和机械手工作,所述测试子板经串口协议将当前测试项目的状态信息以及测试结果信息传给测试主板,所述测试状态信息及测试结果信息均包括打印信息和测试项信息;所述的串口协议中以#字符开头,*字符结束表示测试项信息,不以#字符开头的表示调试打印信息;所述测试主板将芯片的最后测试结果信息通过所述机械手的测试接口发送给机械手,机械手进行芯片测试结束情况的统计。本发明可以支持人工手动测试,也支持机械手控制测试,测试效率高,测试成本低。
申请公布号 CN102103534B 申请公布日期 2012.08.29
申请号 CN201010574415.1 申请日期 2010.12.06
申请人 福州瑞芯微电子有限公司 发明人 刘梅英;周敏心;薛志明
分类号 G06F11/22(2006.01)I 主分类号 G06F11/22(2006.01)I
代理机构 福州市鼓楼区京华专利事务所(普通合伙) 35212 代理人 翁素华
主权项 一种SOC的功能测试系统,包括测试机台以及受控于测试机台用于测试待测芯片的机械手;其特征在于:还包括测试子板、测试主板,所述测试主板控制测试机台和机械手工作,所述测试子板经串口协议将当前测试项目的状态信息以及测试结果信息传给测试主板,在所有测试项目结束后,所述测试主板将芯片的最后测试结果信息通过所述机械手的测试接口发送给机械手,机械手进行芯片测试结束情况的统计;所述测试项目的状态信息及测试结果信息均包括打印信息和测试项信息;所述的串口协议中以#字符开头,*字符结束表示测试项信息,不以#字符开头的表示打印信息;所述机械手功能包括:放待测芯片、启动测试和芯片测试结束情况的统计;所述测试项信息包括Begin命令、Start命令、Result命令以及End命令;所述的Begin命令表示芯片的测试正式开始,随后带有待测芯片的型号和测试软件的版本号;所述Start命令表示某个测试项正式开始,随后带着测试项的名字,测试主板会对测试项目数量进行计数,每遇到一个Start计数值会加1;所述Result命令表示某个测试项的测试结果返回,随后带着测试结果、返回这个结果的测试项的名字以及下一个测试项的名字,测试主板的主控芯片在收到Result命令时,会提取返回结果的当前测试项名字,跟之前Start时用的名字进行对比,以防止中间通过了某一项Start;所述End命令表示所有项目测试完毕,随后带着总共测试了多少项的数值,测试主板的主控芯片会把自己内部对项目的计数值与End命令带的项目数进行对比,检查是否相等,以便知道有没有漏测。
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