一种用于检测IGZO-TFT驱动特性的装置

摘要

本实用新型提出一种用于检测IGZO-TFT驱动特性的装置。该用于检测IGZO-TFT驱动特性的装置包括IGZO-TFT驱动单元以及阵列制备所用到的掩模板，数个微胶囊电泳显示单元；该掩模板包含三个功能区，分别为：对准标记区、单个器件区、阵列区域。通过该检测装置，不但能够对阵列TFT晶体管进行驱动性能的检测，而且对单一TFT晶体管也能够实现逐个检测；同时，也可以根据需要对阵列数量进行设定，并且TFT阵列在单像素静态驱动时，能够实现驱动显示功能。另外，采用对准标记区能够加快检测工作的效率和准确性。

主权项

用于检测IGZO‑TFT驱动特性的装置，该装置包括IGZO‑TFT驱动单元以及阵列制备所用到的掩模板，数个微胶囊电泳显示单元；其特征在于：该掩模板包含三个功能区，分别为：对准标记区、单个器件区、阵列区域；所述对准标记区在掩模板的两个边缘，每个边缘采用多个四方块图形作为标记；每个边缘的该四方块图形采用从两端到中间逐渐增大的四方块图形，形成了两端四方块小，中间四方块大的结构；所述单个器件区分两区，第一区域位于掩模板最上端两排，共计8×2个单个TFT；阵列区域包括至少两组阵列，每个阵列可根据实际的需要进行陈列数量选择。