发明名称 LED结温测试方法
摘要 LED结温测试方法,首先在设定工作状态下对LED进行电阻温度系数标定,取得电阻温度系数平均值<img file="dda0000032853290000011.GIF" wi="52" he="59" />然后利用所得的电阻温度系数在实际工作状态下对LED进行结温测试,随时间变化的LED结温T<sub>L,t</sub>根据式<img file="dda0000032853290000012.GIF" wi="497" he="72" />计算得到,其中T<sub>0</sub>为初始环境温度,R<sub>L,t</sub>为随工作时间变化的LED电阻,R<sub>L,0</sub>为通入工作电流瞬间的LED电阻。本发明提供的测试方法仅需在宽的工作电流范围内任意选取某个(或某几个)电流标定出电阻温度系数,仅需常规的电测试装置,采用类似于常规电阻温度传感器的操作过程,操作简单易行。
申请公布号 CN102072783B 申请公布日期 2012.08.29
申请号 CN201010548423.9 申请日期 2010.11.18
申请人 上海第二工业大学 发明人 谢华清;黎阳
分类号 G01K7/16(2006.01)I 主分类号 G01K7/16(2006.01)I
代理机构 上海天翔知识产权代理有限公司 31224 代理人 赵青
主权项 1.LED结温测试方法,其特征在于,首先在设定工作状态下对LED进行电阻温度系数标定,取得电阻温度系数平均值<img file="FDA0000139829480000011.GIF" wi="53" he="60" />然后利用所得的电阻温度系数在实际工作状态下对LED进行结温测试,随时间变化的LED结温T<sub>L,t</sub>根据式<img file="FDA0000139829480000012.GIF" wi="482" he="74" />计算得到,其中T<sub>0</sub>为初始环境温度,R<sub>L,t</sub>为随工作时间变化的LED电阻,R<sub>L,0</sub>为通入工作电流瞬间的LED电阻;对LED电阻温度系数标定包括以下步骤,1)将恒流电源、LED和标准电阻连接成闭合回路,标准电阻和LED两端分别连接有万用表,封装好的LED直接置于温度可控的恒温浴中;2)设定恒温浴温度,控制恒流电源通入设定电流,采集标准电阻上的电压V<sub>S</sub>和LED上的电压V<sub>L</sub>;3)根据串联电路特征,计算LED电阻R<sub>L</sub>,即R<sub>L</sub>=(V<sub>L</sub>R<sub>S</sub>)/V<sub>S</sub>,所述R<sub>S</sub>为标准电阻的阻值;4)维持恒温浴温度,改变设定电流,重复步骤2)、3);5)改变恒温浴温度,重复步骤2)、3)、4),其中设定电流仍采用步骤2)、3)、4)中的设定电流值;6)对通入同一设定电流,在不同恒温浴温度下测得的LED电阻作温度-电阻图,利用线性拟合得到该LED在0℃时的电阻R<sub>L,0</sub>和电阻相对于温度变化的斜率α,计算出该电流下的电阻温度系数β,即β=α/R<sub>L,0</sub>;7)对其它通入设定电流重复步骤6);8)对通入的不同设定电流下获得的电阻温度系数作电阻温度系数-电流图,确定电阻温度系数达到稳定的区域,对该区域内所有测试电流下获得的电阻温度系数进行平均,所得到的平均值<img file="FDA0000139829480000013.GIF" wi="26" he="60" />选为用于结温测温时的该LED工作状态下的电阻温度系数。
地址 201209 上海市浦东新区金海路2360号