发明名称 磁通密度及构件损耗测量定位装置
摘要 本实用新型涉及一种磁通密度及构件损耗测量定位装置,属于电磁测量技术领域。技术方案是包含四个结构件支架(12)、定位夹件、定位板和磁屏蔽,在四个结构件支架的顶部分别设置定位夹件(1、2、3、4),每个定位板分别与磁屏蔽一起设置在定位夹件上,定位板大小与磁屏蔽相同,在定位板的一面设有若干规则排列的槽,槽正好容纳高斯计探头进出。本实用新型的积极效果是:解决了构件损耗和磁通密度测量过程中,测量结果准确度较低,重复性较差的问题。尤其是在磁通密度测量上,可较大程度地提高测量准确度。另外,上述所有结构件均为非铁磁材料,避免了新加结构件后对原系统测量结果的影响。
申请公布号 CN202404220U 申请公布日期 2012.08.29
申请号 CN201120553703.9 申请日期 2011.12.27
申请人 保定天威集团有限公司 发明人 王晓燕;刘兰荣;刘涛;范亚娜;程志光;李杰
分类号 G01R33/12(2006.01)I;G01R33/02(2006.01)I 主分类号 G01R33/12(2006.01)I
代理机构 唐山顺诚专利事务所 13106 代理人 于文顺
主权项 一种磁通密度及构件损耗测量定位装置,其特征在于包含四个结构件支架(12)、定位夹件、定位板和磁屏蔽,在四个结构件支架的顶部分别设置定位夹件(1、2、3、4),若干定位板分别与磁屏蔽一起设置在定位夹件上,定位板大小与磁屏蔽相同,在定位板的一面设有若干规则排列的槽。
地址 071051 河北省保定市银杏路198号金迪花园综合楼