发明名称 |
Test method for a microcontroller using an external test device |
摘要 |
Method for testing a program controlled unit using an external test device where the external device causes a triggering, executing or supporting program to run. |
申请公布号 |
EP1182555(B1) |
申请公布日期 |
2012.08.29 |
申请号 |
EP20010118167 |
申请日期 |
2001.07.26 |
申请人 |
INFINEON TECHNOLOGIES AG |
发明人 |
ARNOLD, RALF;KOCK, ERNST-JOSEF, DR.;KLOSE, THORSTEN |
分类号 |
G06F11/26;G06F11/267 |
主分类号 |
G06F11/26 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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