| 发明名称 | X射线检查系统 | ||
| 摘要 | 1．本外观设计产品的名称：X射线检查系统。2．本外观设计产品的用途：用于扫描和检查物品。3．本外观设计的设计要点：本外观设计产品的形状。4．最能表明设计要点的图片或者照片：主视图。 | ||
| 申请公布号 | CN302055926S | 申请公布日期 | 2012.08.29 |
| 申请号 | CN201230181146.2 | 申请日期 | 2012.05.18 |
| 申请人 | 同方威视技术股份有限公司 | 发明人 | 罗明生;王智泉 |
| 分类号 | 24-01 | 主分类号 | 24-01 |
| 代理机构 | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人 | 齐晓寰 |
| 主权项 | |||
| 地址 | 100084 北京市海淀区双清路同方大厦A座2层 | ||