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发明名称
PROBE UNIT FOR TESTING CHIP ON GLASS PANEL
摘要
申请公布号
KR101177511(B1)
申请公布日期
2012.08.27
申请号
KR20100119046
申请日期
2010.11.26
申请人
发明人
分类号
G01R1/073;G02F1/13
主分类号
G01R1/073
代理机构
代理人
主权项
地址
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