发明名称 |
一种ESD电路的沟道及其制备方法 |
摘要 |
本发明公开了一种静电释放(ESD)电路的沟道及其设计方法,通过一次构图工艺形成所述ESD电路区域的沟道和像素区域的沟道,所述ESD电路区域的每一个子沟道宽度,与像素区域的沟道宽度相同,即在制作掩膜板时,保证ESD电路区域的沟道的宽度与像素区域的沟道宽度相同。通过本发明方法,保证了ESD电路区域的TFT的GT Thickness与像素区域的保持一致,使得这两个区域的光的透过量保持一致,从而避免了GT PR无法顺利实现的问题。同时,在ESD部分的W/L比较小时,也可以通过多个沟道的相连来实现,从而减小了因为工艺中的偏差而导致的W尺寸变动,而带来的TFT的导通电流Ion提高,驱动能力增加,但栅源电容Cgs、栅漏电容Cgd随之增加的影响。 |
申请公布号 |
CN102646594A |
申请公布日期 |
2012.08.22 |
申请号 |
CN201110131453.4 |
申请日期 |
2011.05.20 |
申请人 |
京东方科技集团股份有限公司 |
发明人 |
吕敬;张玉婷;孙阳 |
分类号 |
H01L21/336(2006.01)I;H01L21/77(2006.01)I;G03F1/00(2012.01)I;H01L29/10(2006.01)I;H01L27/12(2006.01)I;H01L27/02(2006.01)I;G02F1/133(2006.01)I |
主分类号 |
H01L21/336(2006.01)I |
代理机构 |
北京派特恩知识产权代理事务所(普通合伙) 11270 |
代理人 |
张颖玲;蒋雅洁 |
主权项 |
一种静电释放ESD电路沟道的制备方法,其特征在于,包括:通过一次构图工艺形成所述ESD电路区域的沟道和像素区域的沟道,所述ESD电路区域的每一个子沟道宽度与像素区域的沟道宽度相同。 |
地址 |
100015 北京市朝阳区酒仙桥路10号 |