发明名称 一种模拟电路工艺移植的方法
摘要 本发明公开了一种模拟电路工艺移植的方法,包括:接收用户通过图形界面或命令行形式指定的数据;基于模拟电路功能结构特征库的电路功能分析与划分,以产生基于功能的新的层次化式的设计;基于功能结构特征产生约束条件;基于模拟电路功能性能指标项的测试电路模板库生成测试电路;基于模拟电路功能性能指标项的测量指令模板库生成测量指令;利用性能指标值测试电路和测量指令进行性能指标值计算;将基于功能的层次化式的设计从原工艺映射到目标工艺;利用基于功能的层次化设计单元之间的独立性自下而上的并行优化目标电路;以及输出目标工艺下的基于功能的优化的层次化的电路设计网表。利用本发明,可将一种工艺下已经设计好的模拟电路自动优化为另一种工艺下电路性能指标值均符合要求的模拟电路。
申请公布号 CN102024067B 申请公布日期 2012.08.22
申请号 CN200910092882.8 申请日期 2009.09.09
申请人 中国科学院微电子研究所 发明人 吴玉平
分类号 G06F17/50(2006.01)I 主分类号 G06F17/50(2006.01)I
代理机构 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人 周国城
主权项 一种模拟电路工艺移植的方法,其特征在于,该方法包括:接收用户通过图形界面或命令行形式指定的输入数据,该数据至少包括原工艺下的电路网表、原工艺的模型卡片、目标工艺的模型卡片、原工艺到目标工艺的PCell映射及PCell参数映射、以及从原工艺到目标工艺的模型映射数据、基于模拟电路功能的结构特征库、基于模拟电路功能的性能指标项列表、基于模拟电路功能的性能指标项测试电路模板库、基于模拟电路功能的性能指标项测量指令模板库,以及电源和地网路数据;基于模拟电路功能结构特征库的电路功能分析与划分,以产生基于功能的新的层次化式的设计;基于功能结构特征产生约束条件;基于模拟电路功能性能指标项的测试电路模板库生成测试电路;基于模拟电路功能性能指标项的测量指令模板库生成测量指令;利用性能指标值测试电路和测量指令进行性能指标值计算;将基于功能的层次化式的设计从原工艺映射到目标工艺;利用基于功能的层次化设计单元之间的独立性自下而上的并行优化目标电路;以及输出目标工艺下的基于功能的优化的层次化的电路设计网表;其中,所述基于模拟电路功能结构特征库的电路功能分析与划分,以产生基于功能的新的层次化式的设计的步骤,包括:接收输入数据,该输入数据至少包括原工艺下的电路网表、基于模拟电路功能结构特征的模板库,原工艺的模型卡片,以及电源和地网络;预处理输入网表;追踪直流电路径和信号路径;根据结构特征模板库检查电路的功能同构;根据功能同构进行电路划分和基于功能层次化地重构设计;根据功能结构特征产生电路优化的约束条件;以及输出基于功能的层次化式的设计,功能表以及约束条件表;所述基于功能结构特征产生约束条件的步骤,包括:根据电路功能分析和结构特征生成关于对成约束条件、关于匹配约束条件、关于电流源/电流镜连接的约束条件、关于器件工作在饱和区的约束条件、关于器件工 作在线性区的约束条件、关于器件工作为MOSCAP的约束条件、关于器件是否在信号通路上的约束条件、关于器件是否为电路上电和断电控制器件的约束条件;所述基于模拟电路功能性能指标项的测试电路模板库生成测试电路的步骤,包括:接收输入数据,该数据至少包括原工艺下基于功能的层次化式的设计、设计的功能表,以及基于功能的性能指标项测试电路模板库;查找子单元的功能;查找功能的性能指标项;查找性能指标项的测试电路模板;产生性能指标项的测试电路;以及输出测试电路表;所述基于模拟电路功能性能指标项的测量指令模板库生成测量指令的步骤,包括:接收数据:基于功能的层次化式的设计、电路功能表,以及基于模拟电路功能性能指标项的测量指令模板库;查找子单元的功能;查找功能的性能指标项;查找性能指标项的测量指令模板;产生性能指标项的测量指令;以及输出测量指令表;所述利用性能指标值测试电路和测量指令进行性能指标值计算的步骤,包括:接收数据,该数据至少包括基于层次的功能设计、测试平台表和测试指令表;产生电路仿真网表;电路网表仿真;执行测量;以及输出性能指标值表;所述将基于功能的层次化式的设计从原工艺映射到目标工艺的步骤,包括:接收数据,该数据至少包括原工艺下基于功能的层次化式的设计、原工艺与目标工艺之间的模型映射、原工艺与目标工艺之间的PCell映射及PCell参数映射、目标工艺的模型卡片和原工艺的模型卡片;拷贝原工艺下基于功能的层次化式的设计;根据原工艺与目标工艺之间的模型映射以目标工艺模型卡片名替换原工艺的模型卡片名;确定目标工艺的PCell参数值;根据原工艺与目标工艺之间的PCell映射及PCell参数映射以目标工艺下的PCell名、PCell参数名和参数值替换原工艺下的PCell名、PCell参数名和参数值;以及输出目标工艺下基于功能的层次化式的设计;所述利用基于功能的层次化设计单元之间的独立性自下而上的并行优化目标电路的步骤,包括:接收数据,该数据至少包括目标工艺下基于功能的层次化式的设计、测试电路表、测量指令表、约束条件表和性能指标值表;产生电路网表;执行电路仿真;执行性能指标值的测量;检查测 量结果是否满足;在不满足的情况下修改参数值并返回执行电路仿真步骤;输出目标工艺下基于功能的优化的层次化式的设计。
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