发明名称 | 深沟槽绝缘结构的制法 | ||
摘要 | 本发明提供一种深沟槽绝缘结构的制法,包括以下步骤:提供一半导体基材;形成一第一沟槽于一半导体基材中;顺应性地形成一第一衬层于第一沟槽的侧壁与底部;形成一第一填充层于第一衬层之上并填满第一沟槽;于半导体基材与第一沟槽之上形成一磊晶层;形成一第二沟槽穿过该磊晶层,且位于第一沟槽之上;顺应性地形成一第二衬层于第二沟槽的侧壁与底部;以及形成一第二填充层于第二衬层之上并填满第二沟槽。本发明的深沟槽绝缘结构的制法,通过两次的蚀刻步骤,使深沟槽的深度更深,且改善深沟槽的轮廓;通过两次的填充步骤,降低回填衬层与填充层的困难度,提升深沟槽制程的产量。 | ||
申请公布号 | CN102646621A | 申请公布日期 | 2012.08.22 |
申请号 | CN201110039522.9 | 申请日期 | 2011.02.16 |
申请人 | 世界先进积体电路股份有限公司 | 发明人 | 秦玉龙;杜尚晖;林鑫成 |
分类号 | H01L21/762(2006.01)I | 主分类号 | H01L21/762(2006.01)I |
代理机构 | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人 | 何春兰 |
主权项 | 一种深沟槽绝缘结构的制法,其特征在于,包括以下步骤:提供一半导体基材;形成一第一沟槽于该半导体基材中;顺应性地形成一第一衬层于该第一沟槽的侧壁与底部;形成一第一填充层于该第一衬层之上并填满该第一沟槽;于该半导体基材与该第一沟槽之上形成一磊晶层;形成一第二沟槽穿过该磊晶层,且位于该第一沟槽之上;顺应性地形成一第二衬层于该第二沟槽的侧壁与底部;以及形成一第二填充层于该第二衬层之上并填满该第二沟槽。 | ||
地址 | 中国台湾新竹科学工业园区 |