物位检测装置

摘要

本发明涉及一种物位检测装置，其用于测定待测物的物位，包括：电路基板；第一电极以及第二电极，分别以不同的面积形成在电路基板的一面和另一面；第一介电层以及第二介电层，分别以不同的厚度形成在第一电极上与第二电极上；判断部，通过电路基板与第一电极及第二电极电连接，并利用由第一电极以及第二电极测定的各测定值判断待测物的物位。根据本发明，可以不受温度等周围环境的影响而正确地检测物位。

主权项

一种物位检测装置，其用于测定待测物的物位，其特征在于，包括：电路基板；第一电极以及第二电极，分别以不同的面积形成在所述电路基板的一面和另一面；第一介电层以及第二介电层，分别以不同的厚度形成在所述第一电极上与所述第二电极上；判断部，通过所述电路基板与所述第一电极及第二电极电连接，并利用由所述第一电极以及所述第二电极测定的各测定值来判断所述待测物的物位，所述第一电极以及所述第二电极的面积与所述第一介电层以及所述第二介电层的厚度形成为，在所述物位检测装置被暴露于空气中时，使得形成在所述第一电极的静电容量超过形成在所述第二电极的静电容量，在所述待测物接近或接触所述物位检测装置时，使得形成在所述第二电极的静电容量超过形成在所述第一电极的静电容量。