发明名称 JTAG链路测试装置及其测试方法
摘要 本发明公开了JTAG链路测试装置及其测试方法,用于检测硬件设备的通路状况,其包括一边界扫描单元和一边界扫描寄存器;其中用户在所述边界扫描单元中设置一设备状态数据,所述边界扫描单元还输出硬件设备状态扫描指令至所述边界扫描寄存器;所述边界扫描寄存器基于所述硬件设备状态扫描指令通过TDI口查询一硬件设备的状态,并通过TDO口读取所述硬件设备的状态;所述边界扫描单元比较所述硬件设备的状态和设备状态数据是否一致,若所述硬件设备的状态和预设的设备状态数据一致,则所述JTAG链路通路,否则所述JTAG链路断路。本发明在能够准确判断链路的通路或断路的同时,还简化了用户的操作,降低了测试的成本。
申请公布号 CN102645609A 申请公布日期 2012.08.22
申请号 CN201210090599.3 申请日期 2012.03.30
申请人 上海斐讯数据通信技术有限公司 发明人 田臻
分类号 G01R31/02(2006.01)I 主分类号 G01R31/02(2006.01)I
代理机构 上海智信专利代理有限公司 31002 代理人 胡美强
主权项 一种JTAG链路测试方法,用于检测硬件设备的通路状况,其特征在于,包括以下步骤:S101、在一边界扫描单元中设置设备状态数据;S102、所述边界扫描单元发送硬件设备状态扫描指令至一边界扫描寄存器;S103、所述边界扫描寄存器基于所述硬件设备状态扫描指令通过JTAG的TDI口查询一硬件设备的状态;S104、所述边界扫描寄存器通过JTAG的TDO口读取所述硬件设备的状态;S105、所述边界扫描单元比较所述硬件设备的状态和设备状态数据是否一致,若所述硬件设备的状态和预设的设备状态数据一致,则所述JTAG链路通路,否则所述JTAG链路断路。
地址 201617 上海市松江区石湖荡镇塔闵路579弄-26号