测试电路

摘要

本发明提供一种测试电路，其包括一光耦合器、一单片机、一开关三极管以及一驱动芯片。所述光耦合器包括两个输入端以及两个输出端，所述光耦合器的两个输入端与待测端口连接，光耦合器的其中一个输出端与所述单片机的输入端连接，光耦合器的另一个输出端接地。单片机的输出端与所述开关三极管的基极连接。所述开关三极管的发射极与一外接电源连接，所述开关三极管的集电极与驱动芯片的输入端连接。所述驱动芯片的输出端与一警示设备连接。当光耦合器向所述单片机输入低电平信号时，所述单片机输出低电平信号使得开关三极管导通而输入所述外接电源的电压，所述驱动芯片输出驱动信号以驱动所述警示设备工作。该测试电路具有较佳检测能力且不易损坏。

主权项

一种测试电路，其包括一光耦合器、一单片机、一开关三极管以及一驱动芯片，所述光耦合器包括两个输入端以及两个输出端，所述光耦合器的两个输入端与一待测端口连接，光耦合器的其中一个输出端与所述单片机的输入端连接，光耦合器的另一个输出端接地，单片机的输出端与所述开关三极管的基极连接，所述开关三极管的发射极与一外接电源连接，所述开关三极管的集电极与驱动芯片的输入端连接，所述驱动芯片的输出端与一警示设备连接；当光耦合器向所述单片机输入低电平信号时，所述单片机输出低电平信号使得开关三极管导通而输入所述外接电源的电压，所述驱动芯片输出驱动信号以驱动所述警示设备工作。