发明名称 铟靶及其制造方法
摘要 提供一种可抑制异常放电之产生同时可维持高溅镀速率之铟靶及其制造方法。根据本发明,提供如下之铟靶:靶表面之平均结晶粒径为10mm以下,自平行于压延方向之剖面观察到的晶粒,垂直于压延方向之方向的平均粒径相对于平行于压延方向之方向的平均粒径之比为0.1以上、未达0.7,且孔径50μm以上之空孔为1个/cm3以下。该铟靶可藉由在熔解铸造铟原料后进行冷轧来制造。
申请公布号 TWI370851 申请公布日期 2012.08.21
申请号 TW100118935 申请日期 2011.05.31
申请人 JX日鑛日石金属股份有限公司 日本 发明人 前川贵诚;远藤瑶辅
分类号 C23C14/34 主分类号 C23C14/34
代理机构 代理人 阎启泰 台北市中山区长安东路2段112号9楼;林景郁 台北市中山区长安东路2段112号9楼
主权项
地址 日本