发明名称 A structure of display device for testing line short and a method for testing line short of the same
摘要 <p>본 발명은 라인간 단락검사가 용이한 표시장치의 라인단락 검사구조 및 이의 라인단락 검사방법에 관한 것으로, 화상을 표시하기 위한 표시 영역, 상기 표시 영역의 일측에 형성된 제 1 구동회로 영역, 및 상기 표시 영역의 타측에 형성된 제 2 구동회로 영역을 갖는 기판; 상기 표시 영역에 형성된, 일단이 연결된 다수의 게이트 라인들; 및, 상기 게이트 라인들 사이에 위치하며, 일단이 연결된 다수의 공통전압 전송라인들을 포함하여 구성되는 것이다.</p>
申请公布号 KR101174785(B1) 申请公布日期 2012.08.20
申请号 KR20050114305 申请日期 2005.11.28
申请人 发明人
分类号 G02F1/1345 主分类号 G02F1/1345
代理机构 代理人
主权项
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