| 摘要 |
<p>본 발명은 검사 대상 전극의 물리적인 손상을 방지할 수 있고, 콘택터와 테스트 보드 사이의 연결 부위의 손상 및 콘택터의 손상을 방지할 수 있으며, 콘택터와 전극의 접촉 불량을 방지할 수 있는 테스트 소켓을 제공한다. 본 발명에 따른 테스트 소켓은, 패키지 소자의 전극과 테스트 보드를 전기적으로 연결시키는 테스트 소켓에 있어서, 복수의 관통공이 형성된 하우징; 및 상기 관통공에 관통 삽입되고, 일단이 상기 테스트 보드와 전기적으로 연결되고, 타단은 상기 전극과 마주하도록 배치된 복수의 콘택터를 포함할 수 있고, 각각의 상기 전극은, 적어도 하나 이상의 상기 콘택터와 서로 마주할 수 있다.</p> |
