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发明名称 LIGHT EMITTING DIODE MEASURING APPARATUS AND LIGHT EMITTING DIODE MEASURING METHOD
摘要 <p>발광 소자 측정 장치 및 발광 소자 측정 방법을 제공한다. 반구형 하우징과 상기 반구형 하우징의 내벽에 제공되는 복수 개의 수광 소자들 제공한다. 상기 수광 소자들로부터 데이터를 전송받는 데이터 처리부를 제공한다.</p>
申请公布号 KR101173979(B1) 申请公布日期 2012.08.16
申请号 KR20090087705 申请日期 2009.09.16
申请人 发明人
分类号 G01J1/02 主分类号 G01J1/02
代理机构 代理人
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