Trägersubstrat und Verfahren zur Herstellung von Halbleiterchips
摘要
Es wird ein Trägersubstrat (10) für eine Halbleiterschichtenfolge angegeben, das eine erste Hauptfläche (11) und eine der ersten Hauptfläche gegenüberliegende zweite Hauptfläche (12) aufweist. Zwischen der ersten Hauptfläche und der zweiten Hauptfläche ist eine Diodenstruktur (2) ausgebildet, die die erste Hauptfläche von der zweiten Hauptfläche zumindest für eine Polarität einer elektrischen Spannung elektrisch isoliert. Weiterhin wird ein Verfahren zur Herstellung von Halbleiterchips (3) mit einem Trägersubstrat angegeben.
申请公布号
DE102011011378(A1)
申请公布日期
2012.08.16
申请号
DE20111011378
申请日期
2011.02.16
申请人
OSRAM OPTO SEMICONDUCTORS GMBH
发明人
GUENTHER, EWALD KARL MICHAEL, DR.;ZULL, HERIBERT, DR.;PLOESL, ANDREAS, DR.;VEIT, THOMAS;KAEMPF, MATHIAS;DENNEMARCK, JENS, DR.;BOEHM, BERND;PERZLMAIER, KORBINIAN, DR.